著錄信息
- 專利名稱：一種電池片光致衰減測試系統(tǒng)及其測試方法
- 專利類型：發(fā)明
- 申請?zhí)枺?/em>CN201010105090.2
- 公開(公告)號：CN101762779B
- 申請日：20100118
- 公開(公告)日：20120125
- 申請人：上海晶澳太陽能光伏科技有限公司
- 發(fā)明人：柳國偉,王亞琦
- 申請人地址：200436 上海市閘北區(qū)江場三路36號
- 申請人區(qū)域代碼：CN310108
- 專利權(quán)人：上海晶澳太陽能光伏科技有限公司
- 洛迦諾分類：無
- IPC：G01R31/26
- 優(yōu)先權(quán)：無
- 專利代理機構(gòu)：廣州知友專利商標代理有限公司 44104
- 代理人：李海波
- 審查員：劉俊杰
- 國際申請：無
- 國際公開(公告)：無
- 進入國家日期：無
- 分案申請：無
關(guān)鍵詞
電池片,監(jiān)測器,輻照,監(jiān)測裝置,光致,工作平臺,衰減測試,輻照量,透光板,探頭,測試方法,充氣裝置,調(diào)控裝置,光源光線,光照強度,數(shù)據(jù)傳送,真空試驗,水汽,密封蓋,取放,衰減,失真,監(jiān)測,連接,調(diào)控,評價
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