x射線熒光光譜儀的原理 X熒光光譜儀的優(yōu)缺點(diǎn)
x射線熒光光譜儀是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法,可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品,分析范圍為Be到U。近年來,X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展,廣泛應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個領(lǐng)域,特別是在RoHS檢測領(lǐng)域應(yīng)用得最多也最廣泛。下面來了解下x射線熒光光譜儀的原理以及X熒光光譜儀的優(yōu)缺點(diǎn)。